X荧光光谱仪
真空型矿石土壤分析仪

800plus光谱仪主要应用于采矿作业(勘探、开采、品位控制),工业矿物,生产水泥和建 筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化学学术研究,考古等...

产品详情

800plus光谱仪主要应用于采矿作业(勘探、开采、品位控制),工业矿物,生产水泥和建 筑材料的原材料,耐火材料,陶瓷和玻璃,地球化学学术研究,考古等。 800   plus优异的线性动态范围

,可实现在水泥、矿物、采矿、金属、玻璃和陶瓷行业进行超高精度的过程控制和质量控制。

具有全新真空光路系统和超高分辨率技术的新一代Fast  SDD检测器,对轻、中、重元素和常见氧化物 (Na2O、 MgO Al2O₃ SiO₂ P2O5 SO₃ K20 CaO TiO₂ Cr2O₃ MnO Fe2O₃ ZnO              SrO )都可达到

最佳分析效果。

 

 

 

800plus卓越的分析性能使其可以轻松完成对以下矿种的测试:

铁矿(磁铁矿、赤铁矿、钛铁矿、菱铁矿等)、铜矿(黄铜矿、赤铜矿、孔雀石等)、铬矿(铬铁尖晶石、铬铁矿、铬 铋矿等)、钼矿(辉钼矿、铜钼矿、钨钼矿等)、钨矿(白钨矿、黑钨矿、锡钨矿等)、钽矿(钽铁矿、铌铁矿、烧绿石

)、铅锌矿(方铅矿、闪锌矿、白铅矿等)、镍矿(红土镍矿、硫化铜镍矿等)、铝土矿、其它矿类

 

产品特点:

1. 小型化、高性能、高速度、易操作, Na11-U92  高灵敏度、高精度分析

2.可同时分析40种元素

3.采用多准直器多滤光片和扣背景专利技术

4.Peltier  电制冷 FAST  SDD硅漂移检测器提供出色的短期重复性和长期再现性以及出色的元素峰分辨率

5.超高记数数字多道电路设计,双真空抽速机构,真空度自动稳定系统

6.标配基本参数法软件,多任务,多窗口操作

7.专利薄膜滤光片技术,有效提高轻元素检出限

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

800  Plus能量色散X荧光光谱仪-矿产/矿石分析专家

 

 

 

 

全新设计的XTEST  分析软件

 

软件内核包括基本参数法 (FP),      经验系数法 (EC),    可轻松分析各类样品。

 

*光谱处理参数包括用于定义背景连续性,堆积峰和峰总和,平滑度以及测量到的峰背景光谱的数量

 

*对吸收以及厚膜和薄膜二次荧光的完全校正,即所有基质效应,增强和吸收。 谱显示:峰定性, KLM 标记,谱重叠比较,可同时显示多个光谱图

 

*可以通过积分峰的净面积或使用测得的参考光峰响应,将光峰强度建模为高斯函数。

 

*可以使用纯基本参数方法,具有分散比的基本参数(对于包含大量低Z材料的样品)或通过简单的最小二乘拟 合进行定量分析。

 

*基本参数分析可以基于单个多元素标准,多个标准或没有标准的样品。

 

 

 

 

铝土矿样品10次连续测试稳定性报告

 

 

 

测量次数

 

MgO

 

A12O3

 

SiO2

 

P2O5

 

K2O

 

CaO

 

TiO2

 

MnO

 

Fe2O3

 

Pb

铝土矿-1

 

0.1054

 

75.2553

 

9.9633

 

0.189

 

0.1709

 

0.2083

 

3.5535

 

0.0401

 

10.311

 

0.006

铝土矿-2

 

0.1049

 

75.2001

 

10.0606

 

0.1927

 

0.1662

 

0.2035

 

3.5657

 

0.0421

 

10.3259

 

0.0058

铝土矿-3

 

0.1031

 

75.2126

 

10.0301

 

0.188

 

0.1617

 

0.2049

 

3.536

 

0.0404

 

10.257

 

0.0062

铝土矿-4

 

0.0998

 

75.2123

 

10.0481

 

0.1937

 

0.1651

 

0.2071

 

3.5573

 

0.0444

 

10.3338

 

0.0061

铝土矿-5

0.1075

75.2657

10.0629

0.1949

0.1654

0.2193

3.5481

0.0415

10.2885

0.0062

铝土矿-6

 

0.1058

 

75.1657

 

10.0627

 

0.1988

 

0.1724

 

0.2206

 

3.5542

 

0.0404

 

10.321

 

0.0062

铝土矿-7

0.1007

75.1966

10.0811

0.1928

0.1725

0.2199

3.5694

0.0438

10.334

0.0062

铝土矿-8

 

0.1008

 

75.2769

 

10.0104

 

0.1947

 

0.1663

 

0.2185

 

3.5289

 

0.0406

 

10.2942

 

0.0059

铝土矿-9

 

0.1057

 

75.2524

 

10.0968

 

0.1929

 

0.161

 

0.214

 

3.5483

 

0.0412

 

10.3395

 

0.006

铝土矿-10

0.1049

75.2344

10.0828

0.1918

0.1635

0.2212

3.5648

0.0423

10.3411

0.0062

平均值

 

0.104

 

75.227

 

10.050

 

0.193

 

0.167

 

0.214

 

3.553

 

0.042

 

10.315

 

0.006

标准偏差

0.0026

0.0355

0.0397

0.0030

0.0042

0.0071

0.0129

0.0015

0.0272

0.0001

相对标

准偏差

 

 

2.51%

 

 

0.05%

 

 

0.39%

 

 

1.58%

 

 

2.50%

 

 

3.31%

 

 

0.36%

 

 

3.55%

 

 

0.26%

 

 

2.43%

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

仪器参数


 

仪器外观尺寸

超大样品腔

半封闭样品腔(抽真空时)

仪器重量

元素分析范围

可分析含量范围

探测器

探测器分辨率

处理器类型

谱总通道数

X光管

光管窗口材料

准直器

滤光片

高压发生装置

高压参数

样品观察系统

电压

环境温度

 

565mm*385mm*415mm

465mm*330mm*110mm

φ150mm×高75mm

 

48KG

Nal1-U92钠到铀

1ppm-99.99%

AmpTek超高分辨率电制冷Fast SDD硅漂移检测器

122 eV FWHM at 5.9 keV

全数字化DP-5分析器

4096道

高功率50瓦光管(原装进口管芯),冷却方式:硅脂冷却

铍窗

多达8种选择,最小0.2mm

7种滤光片的自由选择和切换

原装美国高压,电压输出:0-50kV;输出电流:0-1mA

最小5kv可控调节,自带电压过载保护,输出精度:0.01%

1500万像素高清CCD摄像头

220ACV    50/60HZ

- 10°C到35°C

 

仪器标准配置


初始化标样

真空泵

矿石专用样品杯

USB数据线

电源线

测试薄膜

仪器出厂和标定报告

保修卡


 

 

 

 

 

 


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